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About YCY Technology
中心簡介：
友創偉業研發中心匯集了一批業內知名的專業科技人才，有從事鋰電研發制造十多年的資深專家、工程師、碩士及本科生等。其中有工程師15人，研究生3人，本科生6人，大專生6人。研發中心瞄準世界鋰電池技術前沿，以支持生產為主要目標，并進行基礎研究。能在7天左右設計出客戶需要的新產品，擁有多條小試生產線和一條日生產能力為一千只電池的中試生產線，確保以最快的速度將實驗成果轉化為產品，而且公司每年投入銷售額的3%用于研發中心的建設和新產品的開發，不斷提高我司的研發實力和創新能力。與其它公司相比，公司在電動車、安防產品、電動玩具、數碼產品、無線通訊、燈具、便攜式DVD等領域研發，具有較明顯的優勢。
新產品開發程序：
友創偉業研發中心以客戶需求為起點，通過使用多種科學分析工具展開研究，大量采集有效可靠的數據，運用統計手段，找到各種關鍵參數，開發出符合客戶需要的高品質電池產品。
量產工序成熟度研究
設備儀器研發中心目前擁有X射線衍射儀、比表面積分析儀、X熒光光譜儀、氣相色譜儀、激光粒度儀、X-透視儀、原子吸收分光光度計及電感耦合等離子高頻發射光譜儀。
（1） X射線衍射儀（XRD）
X射線衍射儀是利用衍射原理, 對多晶物相進行測定,精確的進行物相分析（定性或定量）、晶胞參數的測定、點陣畸變的測定、結晶度測定和Rietveld分析等，方法簡便靈活、數據可靠，適用于各種多晶物相分析，我司主要用于電池材料物相及晶體結構的分析。
（2） 比表面積分析儀
比表面分析儀是用來檢測顆粒物質比表面積的專用設備。比表面積是單位質量物質的表面積（㎡/g），它是粉體材料最重要的物性之一。我司主要用于粉體主材料及添加劑等比表面積的測試，監控粉體材料的來料品質。
（3） X熒光光譜儀（XRF）
X射線熒光光譜儀是基于偏振能量色散 (ED-XRF)的分析方法，可分析固體、粉末、液體等樣品，分析范圍為Be到U。近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，大多數分析元素均可用其進行分析，并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小、樣品不被破壞等的特點。我司主要用于歐盟ROHS指令中有害物質的檢測，及快速進行材料元素組份分析及鍍層厚度分析。
（4） 氣相色譜儀（GC）
色譜色譜儀（GC）是基于各組分在流動相和固定相之間分配系數不同，當試樣被載氣帶入色譜柱中，在兩相間進行反復多次分配過程，由于固定相對組份溶解、吸附、滲透或離子交換等作用的不同，產生了保留能力明顯差異的效果，經過色譜柱后，彼此分離，按照先后次序從色譜柱中流出，進入檢測器，在記錄儀上顯示出各組分的譜圖。根據先后次序、峰高度或峰面積可區別各組分，并計算出各組分含量。我司采用GC測試電池充放電過程中氣體成份及含量。
（5） 激光粒度儀
激光粒度分析儀原理是激光束在傳播過程中遇到樣品池內顆粒樣品，與之相互作用，會聚的光束散射到探測器，轉換成電信號輸出。它廣泛用于測試各種非金屬粉、金屬粉末（如銅粉、合金粉、稀土金屬粉等）的粒度，具有重復性好、測試范圍寬、測試迅速快等特點，我司主要用于粉體材料粒徑的測試，檢驗粉體材料的品質。
（6） X-透視儀
X射線-透視儀利用X射線的穿透力，可分析物質內部結構，廣泛用于透視骨質、非金屬、薄金屬、塑料等物品。我司主要用來進行電池內部結構觀測。
（7）原子吸收分光光度計
原子吸收分光光度計是利用待測元素被加熱原子化，成為基態原子蒸汽，對空心陰極燈發射的特征輻射進行選擇性吸收，測定其吸光度，其吸收強度與試液中被測成份的含量成正比，根據郎伯-比耳定律計算出元素含量。它主要用于痕量元素雜質的分析，具有靈敏度高及選擇性好兩大主要優點，我司主要用于電池材料中微量雜質元素含量分析以及ROHS指令中有害金屬元素的準確測試。
（8）電感耦合等離子高頻發射光譜儀（ICP-OES）
電感耦合高頻等離子發射光譜（ICP-OES）分析是將試樣在等離子體光源中激發，使待測元素發射出特征波長的輻射，經過分光，測量其強度而進行定性、定量分析的方法。ICP-OES具有分析速度快，靈敏度高，穩定性好，線性范圍廣，基體干擾小，可多元素同時分析等優點。現已廣泛用于地質、環保、化工、生物、醫藥、食品、冶金、農業等各行業，我司主要用于分析電池材料中元素成份及含量。
新產品開發程序：
友創偉業研發中心以客戶需求為起點，通過使用多種科學分析工具展開研究，大量采集有效可靠的數據，運用統計手段，找到各種關鍵參數，開發出符合客戶需要的高品質電池產品。
量產工序成熟度研究
設備儀器研發中心目前擁有X射線衍射儀、比表面積分析儀、X熒光光譜儀、氣相色譜儀、激光粒度儀、X-透視儀、原子吸收分光光度計及電感耦合等離子高頻發射光譜儀。
（1） X射線衍射儀（XRD）
X射線衍射儀是利用衍射原理, 對多晶物相進行測定,精確的進行物相分析（定性或定量）、晶胞參數的測定、點陣畸變的測定、結晶度測定和Rietveld分析等，方法簡便靈活、數據可靠，適用于各種多晶物相分析，我司主要用于電池材料物相及晶體結構的分析。
（2） 比表面積分析儀
比表面分析儀是用來檢測顆粒物質比表面積的專用設備。比表面積是單位質量物質的表面積（㎡/g），它是粉體材料最重要的物性之一。我司主要用于粉體主材料及添加劑等比表面積的測試，監控粉體材料的來料品質。
（3） X熒光光譜儀（XRF）
X射線熒光光譜儀是基于偏振能量色散 (ED-XRF)的分析方法，可分析固體、粉末、液體等樣品，分析范圍為Be到U。近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，大多數分析元素均可用其進行分析，并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小、樣品不被破壞等的特點。我司主要用于歐盟ROHS指令中有害物質的檢測，及快速進行材料元素組份分析及鍍層厚度分析。
（4） 氣相色譜儀（GC）
色譜色譜儀（GC）是基于各組分在流動相和固定相之間分配系數不同，當試樣被載氣帶入色譜柱中，在兩相間進行反復多次分配過程，由于固定相對組份溶解、吸附、滲透或離子交換等作用的不同，產生了保留能力明顯差異的效果，經過色譜柱后，彼此分離，按照先后次序從色譜柱中流出，進入檢測器，在記錄儀上顯示出各組分的譜圖。根據先后次序、峰高度或峰面積可區別各組分，并計算出各組分含量。我司采用GC測試電池充放電過程中氣體成份及含量。
（5） 激光粒度儀
激光粒度分析儀原理是激光束在傳播過程中遇到樣品池內顆粒樣品，與之相互作用，會聚的光束散射到探測器，轉換成電信號輸出。它廣泛用于測試各種非金屬粉、金屬粉末（如銅粉、合金粉、稀土金屬粉等）的粒度，具有重復性好、測試范圍寬、測試迅速快等特點，我司主要用于粉體材料粒徑的測試，檢驗粉體材料的品質。
（6） X-透視儀
X射線-透視儀利用X射線的穿透力，可分析物質內部結構，廣泛用于透視骨質、非金屬、薄金屬、塑料等物品。我司主要用來進行電池內部結構觀測。
（7）原子吸收分光光度計
原子吸收分光光度計是利用待測元素被加熱原子化，成為基態原子蒸汽，對空心陰極燈發射的特征輻射進行選擇性吸收，測定其吸光度，其吸收強度與試液中被測成份的含量成正比，根據郎伯-比耳定律計算出元素含量。它主要用于痕量元素雜質的分析，具有靈敏度高及選擇性好兩大主要優點，我司主要用于電池材料中微量雜質元素含量分析以及ROHS指令中有害金屬元素的準確測試。
（8）電感耦合等離子高頻發射光譜儀（ICP-OES）
電感耦合高頻等離子發射光譜（ICP-OES）分析是將試樣在等離子體光源中激發，使待測元素發射出特征波長的輻射，經過分光，測量其強度而進行定性、定量分析的方法。ICP-OES具有分析速度快，靈敏度高，穩定性好，線性范圍廣，基體干擾小，可多元素同時分析等優點。現已廣泛用于地質、環保、化工、生物、醫藥、食品、冶金、農業等各行業，我司主要用于分析電池材料中元素成份及含量。
